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4回收光模块吗?有没有价位表发来看看
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2长期高价大量收购全新原包装光模块华为1.25G-10KM40KM80KM2.5G-15KM40KM80KM10G-1.4KM 10G-0.3KM10G-10KM 10G-15KM10G-40KM 10G-80KM100G-10KM40KM80KM华为 中兴 烽火 海信OLTC+ C++全新光模块
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530,,米,
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1出租光模块测试设备,提供场地出租
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16兼容HFBR-1414TZ/HFBR-2412TZ国产替代的光模块有没有人知道,我们是做SVG项目、逆变器、变频器的、以前试了几家都不行。
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0我司是专业加工生产温控设备和激光驱动设备! 温控设备:温度范围:-50℃——120℃,-20℃——200℃,常温——300℃。温度精度:±0.1℃或者±0.01℃。 激光驱动设备:蝶型激光驱动电源(100mA-3000mA)、连续脉冲激光电源、大电流(20A-200A)激光驱动电源等。
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0芯片的HAST测试是一种集成电路(IC)行业中常用的可靠性测试方法。它通过将芯片置于高温高湿环境下,模拟芯片在实际应用中可能面临的恶劣条件,以评估芯片的稳定性和可靠性。HAST测试的主要原理是通过高温和高湿度加速芯片老化过程,从而更早地暴露出潜在的问题。 针对HAST测试,测试座在配合测试时需要注意以下几个方面: 耐高温高湿性能:HAST测试中,温度通常在100°C至150°C之间,湿度高达85%至95%。因此,测试座需要具备良好的耐高温高湿
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0thermoplate三温测试台ATC860通过接触头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。 thermoplate三温测试台ATC860主要特点: (1)广泛的温度范围,涵盖大多数半导体,电子工业,汽车和商业的测试要求。 (2)温度之间的快速转换循环。 (3)内部热电偶空气温度控制和监测。 (4)外
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0HAST试验是“highly accelerated temperature and humidity stress testing”的缩写,即:高加速稳态湿热&应力试验(高加速温度、湿度、应力试验),在GB/T 2423.40-1997内对应名称描述为“未饱和高压蒸汽恒定湿热试验” HAST试验是针对非气密性封装器件,通过温度、湿度、压力、偏压来加速湿气进入到器件内部,从而加速器件老化,考察器件抗湿气能力。 HAST试验的失效机理与传统的恒温恒湿试验(“85℃/85%RH”或者“THB”)的失效机理一致。常用的试验条件如130℃,85%RH
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56请在下面留下联系方式~谢谢! 我会联系您的~
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5兼容AFBR-1629Z/AFBR-2529Z的国产替代光模块有没有人知道,我们是做SVG项目、逆变器、变频器的,最近试了好几家的产品都不给力,真的愁死了。
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0十余年行业加工,独立模房,压铸+冲压+注塑,自有电镀产线,从图纸输入到包装出货一条龙
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7请问哪里有兼容HFBR-1521Z/HFBR-2521Z 的国产替代?我了解到阳光电源、上能电气、古瑞瓦特、固德威、特变电工、首航新能源等等这些公司都在选择用FT-1521Z/FT-2521Z去替换HFBR-1521Z/HFBR-2521Z,这个有了解的吗?
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3由于安华高产能原因及其他不可言表到的原因,导致HFBR-1414和HFBR-2412的交付出现了较大的问题。在此大环境下寻找替代AVAGO的HFBR-1414和HFBR-1412的需求比较强烈。后来市面上出现了一些所谓可以替代HFBR-1414的产品,但是这些产品往往有以下这些问题: 1、需要客户变更电路设计; 2、无法正常使用要么就是无法和安华高的产品无法互联互通; 3、各种指标和安华高的有出入; 4、模块抗干扰能力差,有些甚至用手一摸都会带来干扰; 这些伪原位替代是否让
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4哪里有兼容AFBR-1629Z/AFBR-2529Z的国产替代?
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0全新原包对码PON板,有需要的老板私聊[图片]
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0芯片高低温变温测试台是一款针对芯片、光器件变温性能测试的多功能测试平台,XYZ轴可任意调节,XY轴调节范围0-250mm,轴调节范围0-200mm,控温精度±0.01℃,控温范围-50℃-120℃(非标可定制),触摸屏控制,友好的人机界面,RS232、RS484远程控制接口,无噪声、无振动,升降速率可调。组成部分:半导体冷热台、高精度半导体温度控制器、温控软件、水循环系统(选配)。样品台尺寸 可根据实际要求定制。常规尺寸:从 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm