光电测径仪的技术优势使其质量更优

　　通过采用亮度在50000mcd以上的进口LED光源，将测头的曝光时间缩短到了100微秒，即相当于采样频率10000Hz。消除了被测物抖动时的虚影现象。同时在电路系统中采用了光源—信号采集单元脉冲同步、多路采集同步、信号采集—通讯传输同步等多项同步技术。解决了抖动误差的难题，消除了抖动误差。
　　CCD用于尺寸测量的技术是非常有效的非接触检测技术，各种线阵CCD均可以用于尺寸的测量。其基本结构包括光敏元阵列、存储栅、转移栅及模拟移位寄存器。
　　由CCD像传感器、光学系统、计算机数据采集和处理系统构成的CCD光电尺寸检测仪器其使用范围和优越性是现有机械式、光学式、电磁式测量仪器都无法比拟的。
　　这与CCD本身所具有的高分辨率、高灵敏度、像素位置信息强、结构紧凑及其自扫描的特性密切相关。这种检测方法目前已被广泛地应用于各种加工件的在线检测和高精度、高速度的检测技术领域。
　　目前光电测径仪已广泛用于外径尺寸的在线检测当中，线缆电缆、橡胶、塑料、轴承、软管、机械加工等行业均已采用测径仪进行质量检测。