北京，波威，2019年4月26日，
背散射实时晶体定向精度可以控制在0.1度精度偏差，软件测量误差可以下降到0.05度以下。如果样品太厚或太大，X射线无法穿透，LAUE后向散射模式记录X射线散射的广谱源，这是很有用的。晶体中的衍射平面是通过知道衍射平面的法向平分入射光束和衍射光束之间的夹角来确定的，晶体取向是由斑点的位置决定的。每个斑点都可以被索引，也就是说，使用特殊的图表将其归因于一个特定的平面。Laue技术也可用于从斑点的大小和形状评估晶体的完整性。如果晶体被弯曲或扭曲，这些斑点就会变形和杂乱。由于现代同步加速器和实验室光学系统能够提供微米量级直接的光束，因此可以在拉伸样品前后多晶合金中提取单个晶粒的取向和应变分布。该解决方案在工业应用中取代胶片劳厄系统；例如，监测由单晶高级合金制成的高性能涡轮叶片的缺陷。”以避免叶片在高温下的抗蠕变性差和失效。劳厄法可以用来确定大单晶的取向。白色辐射从固定晶体反射或透过固定晶体。衍射光束形成一组点，这些点位于胶片的曲线上。布拉格角对于晶体中的每一组平面都是固定的。每一组平面从白辐射中挑选出特定的波长并进行衍射，白辐射满足有关d和q值的布拉格定律。因此，每条曲线对应不同的波长。位于任何一条曲线上的点都是来自属于同一区域的平面的反射。来自同一区域平面的劳厄反射都位于一个假想圆锥体的表面上，该假想圆锥体的轴是区域轴。下面是劳厄衍射图案的示例；蓝宝石C轴对齐、SiC六边形对齐和金刚石边缘基板011对齐。PSEL 劳厄单晶体定向技术提供可靠的晶体定向，精确到0.05度。