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KZT DFN8测试座 WSON8-1.27老化座 QFN8 5*6mm下压探针老化座现货

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DFN8-1.27(5*6)下压探针老化座
产品简介
A、产品用途:老化座、测试座,对DFN8的IC芯片进行老化测试
B、适用封装:WSON\QFN\DFN8 引脚间距1.27mm
C、测试座:WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27
D、特点:探针结构,接触稳定,性能更稳定
E、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度硬、寿命长
F、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
G、IC进行有锡球、无锡球不同测试,,交期快,提高使用效率
规格尺寸
A、型号:WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27
B、引脚间距(mm):1.27
C、脚位:8
D、芯片尺寸:5*6


1楼2020-10-24 15:28回复