FIB切割芯片测试
我们 实验室为做芯片的FIB切割芯片测试：
FIB切割芯片测试
对芯片内部进行厚度测量：
解剖芯片后可以发现纳米级芯片缺陷微孔
FIB切割芯片样品测试
对芯片切割面成份做元素分析：
FIB切割芯片样品元素扫描
我们 实验室为做芯片的FIB切割芯片测试：
FIB切割芯片测试对芯片内部进行厚度测量：
解剖芯片后可以发现纳米级芯片缺陷微孔
FIB切割芯片样品测试对芯片切割面成份做元素分析：
FIB切割芯片样品元素扫描
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