凯智通QFN32-0.4(4*4)下压弹片老化座产品简介
A、产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行老化、测试
B、适用封装:QFN32引脚间距0.4mm
C、测试座:QFN32-0.4
D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次
E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max
F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-32-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:32
D、芯片尺寸:4*4mm 对应国外型号790-62032-101T
产品展示