产品简介(凯智通测试座)
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN48的IC芯片进行老化、测试
B、适用封装:QFN48引脚间距0.35mm
C、测试座:QFN48-0.35
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长,机械寿命:10W次
E、工作温度:-55℃~155℃ 电流:1A max
F、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-48-0.35
B、引脚间距(mm):0.35
C、脚位:48
D、芯片尺寸:5*5mm
产品展示
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN48的IC芯片进行老化、测试
B、适用封装:QFN48引脚间距0.35mm
C、测试座:QFN48-0.35
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长,机械寿命:10W次
E、工作温度:-55℃~155℃ 电流:1A max
F、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-48-0.35
B、引脚间距(mm):0.35
C、脚位:48
D、芯片尺寸:5*5mm
产品展示