在测量原理上，当外部扰动发生时，光纤的长度、折射率等会随着外部扰动事件发生变化，最终导致光纤相应位置产生的RBS光信号相位发生变化。Φ-OTDR通过分析外部扰动发生前后该位置的RBS相位变化，便可以对外部扰动事件进行定量测量。
其原理如图：
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