冬日将至,寒风袭来,科学指南针为您准备了两大热门测试的特惠,优惠连续四个月!
活动时间:11月23日-12月7日

o 仪器介绍
形貌分析TEM测试默认加速电压为200kV,可提供最小5nm标尺图片,提供tif格式数据文件,仅进行形貌拍摄和衍射分析。
设备型号:日本电子JEOL JEM-2100Plus
灯丝类型:LaB6,加速电压:80 - 200 kV
常规放大倍数:2000 - 1000000x
相机:TOLARA 底装式CCD相机
图片分辨率:2752*2192,点分辨率:0.194nm
设备特点:设备采用多级聚光镜设计,配有超高分辨率UHR材料极靴,束斑在不同尺寸下都可以提供高能电子束,具有较高分辨率和较好的微区分析能力。
应用场景:广泛应用于金属材料、半导体材料及复合材料等的形貌拍摄和结构表征。
o 样品要求
非磁或弱磁,结晶性好、耐电子辐照的粉末及液体样品,固体类样品不参加寄样测试活动哦,具体细节请联系项目经理确认。
另外有dm3格式的数据需求,或者有stem及能谱需求的老师可以预约F200等其他型号的设备(F200不参与此次活动)。


o 仪器介绍
2013年首台实验室用台式XAFS谱仪诞生于美国华盛顿大学物理系Gerald T. Seidler教授课题组,并于2015年成立了easyXAFS公司,致力于实验室用台式XAFS谱仪的推广和应用。
操作更便捷:可以同时进行多个样品的测试,无需使用同步辐射光源,常规实验环境中即可实现X射线吸收精细结构测量和分析。
测试效果好:对于常规元素含量高的样品,测得的谱图效果可以媲美同步辐射。
国际认可:各大顶刊已顺利发表,如Advanced Functional Materials,JACS,ACS Applied Materials & Interfaces
价格更合适:台式价格相比同步辐射设备测试单价更便宜。
测试更快速:同步辐射XAFS设备测试资源紧缺,机时固定且需要提前预约,拿到结果至少需要0.5~1个月,目前科学指南针台式XAFS测试,收到样品3天内可拿到实验结果。
o 样品要求
1. 粉末样,所需样品量和样品中待测元素含量有关,具体请咨询工作人员。
块体/薄膜:长宽10-13mm左右,表面无裂缝,无孔洞。
2. 待测元素含量要求:质量分数≥3%。
3. 可测能量范围:5KeV~18KeV,测试模式为透射模式。
4. 目前拥有6种金属标样,分别是Fe、Co、Ni、Cu、Zn和Mn。


这次优惠活动不仅针对形貌TEM / 台式XAFS测试订单有折扣优惠,更是针对其测试结果的真实反馈,即所有参与此次活动的客户,仅需要在收到测试报告后联系福利官(企业微信),提交订单评价等真实反馈,即可参与到礼品兑换的活动中。而科学指南针也会根据客户的反馈和评价,进一步提升自身的服务质量和精度。据悉,福利官核实后,符合规定的顾客将会获得腾讯视频会员卡、奶茶券等不同礼品。
活动时间:11月23日-12月7日

o 仪器介绍
形貌分析TEM测试默认加速电压为200kV,可提供最小5nm标尺图片,提供tif格式数据文件,仅进行形貌拍摄和衍射分析。
设备型号:日本电子JEOL JEM-2100Plus
灯丝类型:LaB6,加速电压:80 - 200 kV
常规放大倍数:2000 - 1000000x
相机:TOLARA 底装式CCD相机
图片分辨率:2752*2192,点分辨率:0.194nm
设备特点:设备采用多级聚光镜设计,配有超高分辨率UHR材料极靴,束斑在不同尺寸下都可以提供高能电子束,具有较高分辨率和较好的微区分析能力。
应用场景:广泛应用于金属材料、半导体材料及复合材料等的形貌拍摄和结构表征。
o 样品要求
非磁或弱磁,结晶性好、耐电子辐照的粉末及液体样品,固体类样品不参加寄样测试活动哦,具体细节请联系项目经理确认。
另外有dm3格式的数据需求,或者有stem及能谱需求的老师可以预约F200等其他型号的设备(F200不参与此次活动)。


o 仪器介绍
2013年首台实验室用台式XAFS谱仪诞生于美国华盛顿大学物理系Gerald T. Seidler教授课题组,并于2015年成立了easyXAFS公司,致力于实验室用台式XAFS谱仪的推广和应用。
操作更便捷:可以同时进行多个样品的测试,无需使用同步辐射光源,常规实验环境中即可实现X射线吸收精细结构测量和分析。
测试效果好:对于常规元素含量高的样品,测得的谱图效果可以媲美同步辐射。
国际认可:各大顶刊已顺利发表,如Advanced Functional Materials,JACS,ACS Applied Materials & Interfaces
价格更合适:台式价格相比同步辐射设备测试单价更便宜。
测试更快速:同步辐射XAFS设备测试资源紧缺,机时固定且需要提前预约,拿到结果至少需要0.5~1个月,目前科学指南针台式XAFS测试,收到样品3天内可拿到实验结果。
o 样品要求
1. 粉末样,所需样品量和样品中待测元素含量有关,具体请咨询工作人员。
块体/薄膜:长宽10-13mm左右,表面无裂缝,无孔洞。
2. 待测元素含量要求:质量分数≥3%。
3. 可测能量范围:5KeV~18KeV,测试模式为透射模式。
4. 目前拥有6种金属标样,分别是Fe、Co、Ni、Cu、Zn和Mn。


这次优惠活动不仅针对形貌TEM / 台式XAFS测试订单有折扣优惠,更是针对其测试结果的真实反馈,即所有参与此次活动的客户,仅需要在收到测试报告后联系福利官(企业微信),提交订单评价等真实反馈,即可参与到礼品兑换的活动中。而科学指南针也会根据客户的反馈和评价,进一步提升自身的服务质量和精度。据悉,福利官核实后,符合规定的顾客将会获得腾讯视频会员卡、奶茶券等不同礼品。